機器リスト(大宮)/Equipment list (Omiya)

大宮先端研に設置の機器リストです。 List of equipment installed at the Omiya Shared Research Facilities

一部装置についてはマニュアルをアップロードしましたが、このマニュアルは簡易的なものです。 サポート的に利用してください。
テクノプラザ以外の機器にこのマニュアルの内容を適用した場合に生じたトラブルについては一切の責任を持ちません。
We uploaded a manual for some devices, but this manual is a simplified version. Please use it supportively.
If the contents of this manual were applied to equipment other than the Shared Research Facilities, We are not responsible for any trouble that may occur.
装置と場所の対応表はこちら Click here to see the equipment and location correspondence table.
各装置のマニュアルはこちら The manuals for each device are here.

◆1階101-2室

走査型電子顕微鏡 Scanning Electron Microscope
分析SEM JSM-7400F EDS付き(JEOL) 仕様
透過型電子顕微鏡
TEM JEM-2100(JEOL) 仕様

◆2階202室

集束イオンビーム装置
FIB FB-2000A(日立ハイテクノロジー) 仕様
(新)MI-4050(日立ハイテクノロジー)
X線回折装置 X-ray Diffractometer
RINT-2100PC(Rigaku) 仕様
高輝度単結晶X線構造解析装置
D8 QUEST(ブルカージャパン) 仕様
レーザー顕微鏡 Laser Microscope
OLS1100(オリンパス) 仕様
真空蒸着装置
JEE-400(JEOL) 仕様
ミクロトーム
EM-ULTRACUT UCT(ライカ、JEOL)
精密研磨装置
ダイヤラップML-150P(マルトー)

◆1階101-1室(クリーンルーム)

超純水製造装置
Direct-Q UV(ミリポア)
光学顕微鏡 Optical Microscope
LV100D-U(ニコン)
ナノインプリント装置
LTNIP-5000(リソテック)
超臨界乾燥装置
SCRD4(レクザム)
熱処理装置
GFA430VN(サーモ理工)
無電解メッキ装置
(山本鍍金試験器)
スピンコーター
ACT-300AⅡ(アクティブ)
膜厚計測装置
FE-300(大塚電子) 仕様
超音波ホモジナイザー
UP-50H(ヒールッシャー)
 

◆1階104室

プロトンビームライター
MBS-1000(神戸製鋼所)

◆1階105室

超伝導量子干渉磁束計SQUID
MPMS-XL(米国カンタム?デザイン) 仕様

◆1階107室  

核磁気共鳴装置 Nuclear Magnetic Resonance NMR
JNM-ECZL400S (JEOL)

◆3階301室

高速液体クロマトグラフィーQTRAP型質量分析装置
QTRAP® 5500 LC-MS/MS(AB Sciex Pte. Ltd.) 仕様
セルソーター(フローサイトメーター)
Cell SorterBD FACSAria Ⅲ(日本ベクトン?ディッキンソン) FACS-Manual (380KB)
 

◆3階303室

パルス通電加圧焼結装置(SPS:Spark Plasma Sintering)
LABOX-210(SinterLand Inc.) 仕様
緊急トラブル対応先 Emergency call to product manufacturer
共用職員がいない場合の緊急を要する装置対応先一覧 / List of places to respond to devices requiring urgent attention in the absence of technical staff
 JEOL日本電子 総合コールセンター: 0120-134-788
 Shimadzu島津 島津アクセス東京支店: 03-5820-3273
   またはShimadzu島津 島津コールセンター: 0120-131-691
 Rigakuリガク サービス事業部: 042-545-8185